Stroke发表的一项最新研究评估与非心血管代谢因素相比，心血管代谢合并症及心血管代谢相关再住院对短暂性脑缺血发作（TIA）后死亡率的影响。

 

    研究对2000~2015年因首发TIA住院的251例患者进行分析，评估其心血管代谢合并症（糖尿病、冠状动脉疾病、心力衰竭及心房颤动）发生率、5年住院率和死亡时间。结果发现，受试患者中至少合并一种心血管代谢合并症的患者共计134例（53%），至少合并两种上述合并症者共计55例（22%）。5年时，共计发生再住院事件491次，其中心血管代谢事件相关住院134次（27%）；发生死亡75例，其中心血管代谢相关死亡27例（36%）。进一步分析发现，受试患者的5年死亡率随现有心血管代谢合并症数量的增多而增加（HR=1.89，95%CI：1.17~3.03；P=0.0089），尤以冠状动脉疾病和心力衰竭并存时风险更高。此外，分析发现，每次住院可使死亡风险增加50%（HR=1.5，95%CI：1.37~1.64；P<0.0001）。另外，心血管代谢和非心血管代谢相关死亡率风险均与对应类别的再住院具有相关性。

 

    综上可见，对于首发TIA住院患者，其5年死亡率与现有心血管代谢合并症及后续住院率具有相关性。

 

    参考文献：

 

    Mohammed Yousufuddin，Nathan Young，Lawrence Keenan， et al. Stroke. 2018; STROKEAHA. 117.020022